NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統(tǒng)

NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統(tǒng)

產(chǎn)品描述

NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統(tǒng)是型設(shè)備，用于基板表面形貌的測量。

基板上的Via Hole，Pad形狀，pattem形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。

在高速測量下仍具有優(yōu)良的重復(fù)性和準(zhǔn)確性，支持用戶設(shè)定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動保存及分析功能。

產(chǎn)品規(guī)格

掃描范圍：0-180um（270um可選）

垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm 

臺階高度重復(fù)性:﹤0.5%(1σ)

橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）

工作臺面：510X405mm（程控）

尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)

應(yīng)用領(lǐng)域

Nano View系列為LCD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級別精度的量測。包括：PostSpacer,RGB,Charater,Back Pannel,Spray PR,Roughness,VIA hole,Cu Thickness,Cu Pad,Line Profile,Fiber,Array,Semiconductor,MENS,Abraslon,BGA.

ISO 25178 · 4287 規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)

按照ISO標(biāo)準(zhǔn)機構(gòu)規(guī)定的規(guī)格，以圖表、表格、2D•3D圖像的形式大面積顯示粗糙度、高度及幅度等各類數(shù)據(jù)。

圖形的粗糙度評價Roughness evaluation of images

Nano System利用從ISO、ASME、EUR等多家標(biāo)準(zhǔn)機構(gòu)獲得的30多個粗糙度參數(shù)來評估Sample的粗糙度。